1.EL检测成像 正常片
2.EL检测成像 单晶黑心片和多晶缺陷片
3.EL检测成像 履带印(网状和支点型)
4、EL检测成像 断线
5、EL检测成像 边缘过刻
6、EL检测成像 隐裂
7、EL检测成像 穿孔
8、EL检测成像 边缘玷污漏电
9、EL检测成像 主栅漏电(反向测试)
10、EL检测成像 副栅漏电(反向测试)
11、EL检测成像 多晶晶界漏电
太阳能电池组件多种异常EL缺陷解决方案
异常分类 |
原因 |
解决方法 |
是否可用于 组 件生产 |
1、黑心片 |
原片质量问题 |
反馈厂家根据谈判结果决定 是否投料 |
黑心不可,黑团 可以 |
2、履带印 |
烧结炉网带局部温度差异太大 |
清洗履带或调解烧结炉温度 |
可以 |
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3、断线 |
浆料干、印刷参数没调好、网 版堵塞或质量问题 |
浆料加稀释剂、调解参数、 更换网版 |
A 等品以上可以 |
4、边缘过 刻 |
等刻问题 |
调解工艺或直接请厂家维修 |
不可以 |
5、隐裂 |
某道工序有磕碰 |
逐工序检查 |
不可以 |
6、穿孔 |
硅片质量问题 |
反馈进检,暂停投料 |
不可以 |
7、边缘玷 污 |
主要 2#机漏浆或戴沾有浆料手 套哪硅片 |
规范化操作、边缘用砂纸磨 掉重新测试分档 |
磨边后测试 正 常的可以 |
8、主栅漏 电 |
主栅印刷厚度不均 |
调解参数 |
漏电大于 3 不 可以 |
9、副栅漏 电 |
擦拭片 |
A 等品禁止擦拭,减少擦拭 片数 |
漏电大于 3 不 可以 |
10 、晶 界 漏电 |
原硅片晶界过多、清洗制绒黑 线多 |
反馈厂家、调解清洗工艺 |
漏电大于 3 不 可以 |